Phenom Pharos G2 是荷兰飞纳推出的第二代 肖特基场发射电子源台式扫描电镜(桌面场发射 SEM)。设备集 背散射电子成像(BSE)+ 二次电子成像(SE)+ 集成能谱分析(EDS) 于一体,实现科研级微观表征的高分辨率、高效率与全自动化。
得益于高亮度肖特基场发射电子源,Phenom Pharos G2 在 低电压条件下依然能获得清晰图像,显著降低样品受损与电子束穿透,非常适合 绝缘材料、电子束敏感样品、生物材料、聚合物 等领域的微观分析。
采用 热场发射电子源(Schottky FEG)
高亮度、高稳定性、长寿命,适合长期科研实验
分辨率优于 1.5 nm
低电压下成像仍可保留精细表面结构
更真实地还原纳米材料、金属、半导体、高分子等样品形貌
背散射电子成像(BSE)
二次电子成像(SE)
集成能谱 EDS(高速稳定)
一台设备即可完成 形貌 + 成分分析
自动化设计,30 分钟可上手
彩色光学显微镜全景导航,定位更直观
集成 自动马达样品台,操作无门槛
内置真空锁,15 秒即可完成抽真空
可直接观察不导电样品,无需金属镀膜处理
对电子束敏感样品更友好
内置 27 组独立减震模块
无需额外防震平台,适用于学校实验室、企业研发室、狭小办公区
免调节、免对中、免维护
保证成像一致性,大幅降低维护难度
飞纳台式扫描电镜以其 稳定、耐用、自动化高 的特点,被广泛应用于科研院所、材料研发、锂电行业、半导体检测、质量分析等领域。
灯丝寿命长,性能稳定
电镜系统具备硬件安全保护,避免误操作损伤
免费远程联网诊断
后期维护简单,总成本显著低于传统落地式场发射电镜

材料科学(金属、陶瓷、高分子、复合材料)
锂电池材料、正负极粉末分析
半导体、微电子、晶圆缺陷检测
生物材料、组织结构、微纳结构分析
表面工程、镀层、薄膜研究
工业质检与失效分析
✔ 科研级成像质量
✔ 桌面级体积,无需机房
✔ 自动化程度高,操作零门槛
✔ 维护成本低、可靠性高
✔ 一机完成形貌 + 元素分析
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