根据成像方式的不同，ProX  飞纳电子显微镜主要分为透射式(TEM)和扫描式(SEM)。透射式是将电子束穿透样品，通过测量透过样品的电子强度和相位变化来形成图像。它要求样品非常薄，通常需要制备成纳米级的薄片，以便电子能够顺利穿透。这种显微镜能够提供样品内部结构的高分辨率图像，对于研究材料的晶体结构、原子排列等方面具有重要意义。例如，在材料科学中，透射式可以观察到金属材料中的晶格缺陷、位错等微观结构，以及纳米材料的原子级结构特征。
 

　　扫描式则是利用聚焦的电子束在样品表面逐点扫描，通过收集从样品表面激发出的二次电子、背散射电子等信号来生成图像。它可以提供样品表面的三维形貌信息，具有较大的景深和较高的表面分辨率。在生物学、地质学等领域广泛应用，比如观察细胞表面的形态、岩石的微观结构等。扫描式能够直观地展示样品表面的粗糙度、纹理等特征，对于研究材料的表面性质和微观结构有着重要作用。此外，还有一种扫描透射式(STEM)，它结合了透射和扫描的特点，通过探测透射电子在样品中的角分布来获得高分辨率的图像，并且可以实现原子尺度的元素分析。

 

　　ProX  飞纳电子显微镜在众多领域发挥着不可替代的作用。在生命科学领域，它能够帮助科学家观察病毒、细胞器等微小结构，揭示生命的奥秘；在材料科学中，用于研究新材料的微观结构和性能关系，推动材料的创新和发展；在物理学领域，有助于探索物质的微观物理现象和规律，如量子效应等。
 

　　ProX  飞纳电子显微镜的校准方法：
 

　　-透射电镜：常用周期结构标准物质(如石墨、氧化物晶体)校准图像放大倍率。
 

　　-扫描电镜：采用微米级光刻标尺或纳米金球校准长度量测。
 

　　-放大倍率校准：通过标准样品的已知尺寸与图像测量值的比例，修正显微镜的放大倍率参数。
 

　　-像散校正：调整聚光镜或物镜电流，消除图像模糊或畸变。
 

　　-电子束电流校准：使用法拉第杯或电流校准器，确保束流稳定。
 

　　-通过调整聚光镜、物镜和投影镜的同轴性，保证电子束准确聚焦。
 

　　-根据使用频率，定期(如每月或每季度)重复校准流程，维持仪器精度。