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飞纳扫描电镜的三头六臂之颗粒统计分析测量系统

 发布时间:2020-02-14 点击量:987

飞纳扫描电镜以的微观检测能力被大家熟知,简单的操作、方便的测样、快速的成像以及友好的界面为飞纳带来了不少粉丝。其实,飞纳电镜除了强大的微观检测能力之外,它也有许多实用的可拓展功能。飞纳电镜的这些“三头六臂”让客户在进行微观分析时如虎添翼,今天就来谈一谈其中被很多人关注的 颗粒统计分析测量系统。

 

   

 

在检测粉末样品时,除了形貌观察,我们有时还有统计其粒径、圆度等的需求。如果我们依靠人工手动测量统计,会耗费很大的人力和时间。此时,如果有一款软件能基于微观形貌自动统计颗粒的具体信息,就会方便很多。

 

客户有需求,飞纳有方案 —— 颗粒统计分析测量系统应运而生

 

 

 

 

原理

 

扫描电镜只能进行“黑白”成像,而颗粒与周围背景 “亮度” 不一致,根据这一差异,系统会自动识别到颗粒。

 

检测方式

 

可以根据客户不同检测需求进行统计,比如融合颗粒的识别设置(图1)、覆盖颗粒是否统计(图2)、不完整颗粒是否统计(图3)、小识别颗粒尺寸(图4)等等。

 

图 1

 

图 2

 

图 3

 

图 4

 

统计结果

 

颗粒统计分析测量系统会把识别到的颗粒一一列出来,操作员可以根据需求可以删除不满意颗粒。其次,系统会把每一个颗粒的具体信息统计出来,比如面积、等效圆直径、长轴长度、短轴长度等,全面地了解样品。

 

 

当获得了满意的统计结果之后,还可以根据需要生成散点图、折线图等统计图表(横纵坐标自主确定),并自动生成统计报告,颗粒统计结果一目了然。

 

 

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