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薄膜材料表面缺陷分析用飞纳扫描电镜

更新时间:2026-07-14
产品型号:Phenom XL G3
所属分类:台式扫描电镜
描述:Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,可用于薄膜材料表面缺陷分析,帮助观察划痕、颗粒、孔洞和结构特征。
详情介绍

Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,可用于薄膜材料表面缺陷分析,帮助观察划痕、颗粒、孔洞和结构特征。

Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒,可对最大 100 x 100 mm 的样品进行分析,适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝,电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm,适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。

该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器,并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定,可通过平台询价/留言入口获取选型建议,并预约试样。


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