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高分子薄膜微观缺陷观察用飞纳场发射电镜

更新时间:2026-07-14
产品型号:Phenom Pharos G2
所属分类:台式场发射扫描电镜
描述:Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜,可用于高分子薄膜微观缺陷观察,帮助分析孔洞、颗粒、断面和表面结构。
详情介绍

Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜,可用于高分子薄膜微观缺陷观察,帮助分析孔洞、颗粒、断面和表面结构。

Phenom Pharos G2 采用肖特基热场发射电子枪,电子光学放大倍数可达 2,000,000 X,分辨率优于 1.5 nm,适合对高分辨形貌、精细结构和微纳尺度特征有要求的研发与检测场景。

该产品具备台式化设计、低/中/高三种真空模式、背散射探测器、二次电子探测器,并可根据需求选配能谱探测器。具体配置和价格根据样品类型、成像需求及功能配置确定,可通过平台询价/留言入口获取选型建议,并预约试样。


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