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飞纳电镜邀您参加 IPFA 2019

 发布时间:2019-06-26 点击量:1311

第二十六届集成电路物理和失效分析会议(IPFA 2019)将于 2019 年 7 月 2 日 - 5 日在杭州盛大举行。作为亚洲的集成电路失效分析和可靠性会议,每年都有专业人士、学术研究者、供应商等聚集在一起分享技术更新。

 

届时,飞纳电镜奖携台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL 出席本次会议!

时间:2019 年 7 月 2 日 - 5 日

地点:杭州君悦酒店

 

飞纳电镜展位号:34 号

Phenom XL with_Screenshots.jpg

Ball bonding 工艺检查

 

飞纳电镜彩色光学导航窗口 + 低倍 SEM 导航窗口 + 自动马达台,帮助用户一键找到感兴趣位置,丢失视野。

 

WX20190319-135409.png

 

通过飞纳电镜优中心样品杯,多角度检测 Bonding 质量

 

焊点 0 度角倾斜

 

焊点 45 度角倾斜

 

焊点 90 度角倾斜

 

孔径统计分析测量系统 —— IC 芯片

 

结合飞纳电镜的孔径统计分析测量系统,对 IC 芯片的孔洞自动测量,简单地进行整体性的综合评价。

 

半导体2.png  半导体3.png

 

IC芯片.jpg IC芯片(Delayer).png IC.png

IC 芯片扫描电镜图像

 

光刻胶图形检查

 

光刻胶.png  光刻胶 copy.png

 

MEMS 器件表面形貌观察

 

MEMS1.png  MEMS2.png

 

飞纳在半导体行业中的部分用户

 

用户.png

传真:

邮箱:info@phenom-china.com

地址:上海市闵行区虹桥镇申滨路 88 号上海虹桥丽宝广场 T5,705 室

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