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发挥创造力 —— 用扫描电镜软件统计粉体包覆率

 发布时间:2020/6/18 点击量:819
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在粉体工业领域中,粉体表面的包覆改性工艺是提升产品使用性能的重要方法,对于粉体改性来说,包覆率是关键的参数,但目前主要采用间接考察和检测的方法获得,主要方法如下:

 

采用扫描电镜结合能谱的方式。包覆与否的颗粒表面元素种类及含量是不一样的,因此可以通过该方式观察样品包覆情况,但是其缺点是无法自动统计,只能观察微小区域的颗粒,结果较为片面;

 

采用热重分析方法。比如硬脂酸包覆碳酸钙,如果硬脂酸跟碳酸钙只是普通的物理混合,那么热重分析只有两个峰,一旦硬脂酸跟碳酸钙有作用,他的分解温度就会发生变化,可能就会出现三个峰,一个碳酸钙,一个硬脂酸,还有一个介于两者之间,就是硬脂酸跟碳酸钙结合的部分,这样可以根据这部分分解温度和含量来考察包覆,该方法结果较为准确,但是实验周期长;

 

XPS 是另外一种分析材料表面的方法,信号来源厚度 <10nm,对于材料表面可以有非常灵敏的响应,可以显示出材料表面的元素信息,并依据得到的谱图上对应峰面积进行半定量分析。但是应用于粉体包裹率计算,信号来源浅,误差大,测试效率低。

 

高清的颗粒图像,高效的处理速度,准确的统计结果,看似矛盾的工作,对于飞纳电镜来说就变得轻而易举。那么,飞纳电镜是如何做到的呢?

 

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