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如何呈现扫描电镜样品表面的“真实形貌”

 发布时间:2019/8/28 点击量:906
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扫描电子显微镜(SEM)是依靠电子束与样品相互作用产生俄歇电子、特征 X 射线和连续谱 X 射线、背散射电子等信号,对样品进行分析研究。

 

扫描电镜在表征样品时,受诸多参数的影响,不同类型样品应选用合适的参数,才能呈现出样品更真实的表面信息。如在不同的加速电压下,电子束与样品作用所获得的信号会有很大的差别。从理论上说,入射电子在样品中的散射轨迹可用 Monte Carlo 的方法模拟(如图1 所示),并且推导得到入射电子大穿透深度 Zmax。

 

Zmax=0.0019(A / Z)1.63E01.71

 

图1 电子在钛(Ti)金属中的运动轨迹

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