飞纳扫描电镜能够提供高分辨率，其分辨率可以达到几个埃甚至更高。这主要得益于其能够产生极细的电子束以及电子光学系统和信号检测技术。高分辨率使得扫描电镜能够清晰地观察到样品表面的微小细节，如纳米级别的颗粒、微纳结构的表面形貌等，为材料科学、生物学、物理学等领域的研究提供了有力的工具，有助于揭示材料的微观结构和性能之间的关系。
 

　　扫描电镜具有较大的景深，这意味着即使在观察具有一定粗糙度或高低起伏的样品表面时，也能够保持整个观察区域清晰成像。相比之下，光学显微镜的景深较小，在观察表面不平整的样品时，往往会出现部分区域模糊不清的情况。扫描电镜的大景深特点使其特别适合于观察各种复杂形状和表面形态的样品，如生物组织的切片、多孔材料、集成电路芯片等，能够展示样品的表面特征，而不会因为景深限制而丢失细节信息。
 

　　与透射电镜(TEM)不同，飞纳扫描电镜不需要将样品制备成非常薄的切片或薄膜，可以直接观察大块的材料样品。这是因为扫描电镜主要是通过检测样品表面的信号来成像，而不是像透射电镜那样依赖电子透过样品。这一优点使得扫描电镜在研究各种实际材料和应用方面具有更大的灵活性，例如可以直接观察金属零件的断口、陶瓷材料的断面、高分子材料的表面等，无需繁琐的制样过程，且能够更好地反映材料在实际使用状态下的表面情况。
 

　　除了能够提供高分辨率的表面形貌图像外，飞纳扫描电镜还具备强大的成分分析功能。通过配备不同的探测器，如前述的特征X射线探测器和俄歇电子探测器等，可以在观察样品形貌的同时，对样品中的元素成分进行定性和定量分析。这种将形貌观察与成分分析相结合的能力，使得扫描电镜在材料研究、地质分析、文物鉴定等众多领域具有特殊的优势。例如，在研究合金材料时，可以同时观察合金的微观组织结构以及各相中的元素分布情况，从而深入了解合金的性能与成分及组织结构之间的关系；在分析矿物样品时，能够确定矿物的种类以及其中各种元素的含量和分布状态。