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扫描电镜和能谱:污染检测和化学成分分析设备

 发布时间:2018-02-07 点击量:2043

机器的小故障有时会导致zui终产品受到污染。金属颗粒可以从机器的运动部件中分离出来,因为它会在产品上产生摩擦和沉积,有时会降低产品质量。这篇博客描述了的一项技术,不仅可以检查污染的存在,而且还可以识别它的起源。

 

搜寻和消除:产品污染

 

无论是生产食品、电子设备还是冶金部件,精密机械的引进使生产过程变得工业化和自动化。这些机器有的寿命较短,有时在一定的操作时间后就会产生缺陷,因为它们是由降解材料制成的,因此会产生小颗粒。

 

这些微粒zui终会沉积在产品上,污染食物,可能会产生有毒金属。它们可能损坏探测器或印刷电路板(PCB),甚至成为氧化过程的起源,这将损害机械部件的使用效率。

 

因此,关键不只是检测这些粒子,还要追踪它们的来源,这样生产线上的操作人员就可以消除这个问题。根据污染颗粒的性质和大小,有几种调查方法可供选择。一些技术被证明是更有效的,因为他们充分利用了材料的化学和物理性质进行分析。

 

电子显微镜检测粒子

 

对小型工业来说,电子显微镜的出现,揭示了一种全新的检测污染的方法,一种比以往使用的方法更有效和准确的方法。。扫描电镜目前在使用便捷性,分析速度方面有巨大的改善,台式扫描电镜以更低的使用成本获得了小型企业用户的青睐。

 

通过使用扫描电镜(SEM)的背散射电子探测器(BSD),可以产生样品和粒子的高倍放大图, 不同的对比度突显出不同的成分。

 

 

图1:香蕉中金属颗粒污染的扫描电镜(SEM)图像(亮区)和带尘埃的PCB表面(暗区)。不同的成分立即可见,具体的分析可以从可疑的区域开始。

 

因此,只要简单地扫描样品表面,就可以检测到数十纳米的所有粒子。

 

这个过程有助于识别污染的存在,但这并不是扫描电镜(SEM)能够提供的*信息!

 

SEM和EDS:化学成分分析仪器

 

电子显微镜实际上可以配备能量色散X射线谱仪(EDS)。这意味着在几秒钟内,同样的设备可以提供和分析样品的准确化学成分。

 

这种分析的结果可以进一步用来确定污染物的来源(例如,在生产线中使用的一种非常特殊的钢或塑料),并有选择地修复导致污染的机器部件。在几分钟内,产品的质量可以提高到正常的标准,并优化生产线。

 

关于EDS的更多信息

 

如果想在扫描电子显微镜中更深入地研究EDS,可以看看以下产品介绍——飞纳台式扫描电镜能谱一体机Phenom ProX。

 

传真:

邮箱:info@phenom-china.com

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