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台式原位扫描电子显微镜

更新时间:2026-10-14
产品型号:Phenom XL
所属分类:台式扫描电镜
描述:传统 SEM 常以处理前后的静态图像进行比较。Phenom XL 台式原位扫描电子显微镜把液相、电位、温度和电学偏压引入成像过程,使研究人员能够在外部刺激作用下直接观察材料的成核、生长、重构、退化或失效。借助 MEMS 芯片技术,原位条件可在 SEM 腔体内建立,系统由静态成像工具扩展为动态实验平台。
详情介绍

Phenom XL 台式原位扫描电子显微镜

液相电化学  原位加热  电学偏压

面向材料动态过程研究的台式原位 SEM 方案,通过 FireBolt 和 HydroBolt 模块,把温度、电压、液相电化学条件与同一区域 SEM 图像建立时间对应关系。

台式原位扫描电子显微镜 

Phenom XL 主机与 FireBolt、HydroBolt 原位模块(原资料图片)

原位能力

研究对象

关键价值

液相电化学

电沉积、枝晶、腐蚀与界面变化

同步关联电化学信号与表面形貌

加热与偏压

纳米颗粒、纳米线、薄膜、二维片层等

追踪温度和电场作用下的结构演变

跨平台关联

通用 Nano-Chip 样品

连接原位 SEM 与原位 TEM 分析流程

产品介绍

传统 SEM 常以处理前后的静态图像进行比较。Phenom XL 台式原位扫描电子显微镜把液相、电位、温度和电学偏压引入成像过程,使研究人员能够在外部刺激作用下直接观察材料的成核、生长、重构、退化或失效。借助 MEMS 芯片技术,原位条件可在 SEM 腔体内建立,系统由静态成像工具扩展为动态实验平台。

从原位 SEM 到跨尺度机制分析

Phenom XL 可先利用台式 SEM 的易用性开展现象探索,再将搭载加热或偏压功能的同款 Nano-Chip 转移至 TEM 平台。这一个流程把微米尺度的 SEM 面扫观察,与更高分辨率的 TEM 成像及成分化学分析建立关联,同时保持样品和控制参数的一致性。

台式原位扫描电子显微镜 

台式原位扫描电子显微镜 

MEMS 芯片技术实现原位 SEM

通用 Nano-Chip 连接原位 SEM 与原位 TEM

即插即用集成

原位模块与 DENSsolutions Lightning、Lightning Arctic 透射电镜样品杆共用一致的软件、接口与控制电子模块。对于需要逐级深入验证的材料研究,可在一个连贯流程中完成原位 SEM 现象筛选和原位 TEM 精细表征。


 

FireBolt 原位加热与偏压

FireBolt 是基于 MEMS 技术的 SEM 原位加热与偏压平台,最多配备 8 个电接触点。研究人员可在升温、通电或两者共同作用时连续采集 SEM 图像,将结构变化与温度、电压和时间直接关联。

台式原位扫描电子显微镜 

台式原位扫描电子显微镜 

FireBolt 安装于 Phenom XL 专用适配平台

FireBolt 原位加热与偏压模块

FireBolt 准确参数

项目

FireBolt XL 联用配置

原位激励

加热和或偏压加载

温度范围

加热芯片:室温至 1300 °C;加热偏压芯片:室温至 900 °C

电压范围

-10 V 至 +10 V

电接触点

最多 8 个

样品类型

纳米颗粒、纳米线、薄膜、二维片层、FIB 薄片及混合块体 FIB 薄片

关联分析

支持加热与偏压 Nano-Chip 在 SEM 与 TEM 平台间转移

 

说明:主机分辨率、探测器、真空系统等 Phenom XL 配置应以正式产品配置单或技术协议为准;本页仅列原资料明确给出的原位联用参数。


 

FireBolt 场景应用

应用方向

可观察过程

适用问题

原位高温

纳米颗粒在升温过程中的边缘、表面纹理与成分衬度变化

识别退化起始温区与结构演变顺序

纳米材料烧结

颗粒融合、孔隙收缩和结构粗化

分析烧结动力学与形貌稳定性

材料退化

同一区域在多个温度节点的连续变化

区分形貌变化与成分衬度变化

电迁移与器件失效

电流与温度共同作用下的结构重构

定位失效起点并关联电学加载条件

 

实验案例 900 °C 下纳米颗粒退化

台式原位扫描电子显微镜 

Sr2FeMo0.65Ni0.35O6-δ 纳米颗粒在室温、600 °C 和 900 °C 下的 SE 与 BSE 图像

案例要素

资料记录

研究样品

Sr2FeMo0.65Ni0.35O6-δ 纳米颗粒

实验过程

在室温、600 °C 与 900 °C 连续采集 SE 和 BSE 图像

观察结果

升温过程中颗粒边缘、表面纹理及成分衬度持续变化;900 °C 时出现明显结构退化

研究价值

同一区域多温度节点对照,可判断退化起始温区,并区分形貌变化与成分衬度变化

 


 

HydroBolt 液相电化学原位

HydroBolt 是基于 MEMS 的体相电化学样品台,可在 Phenom XL 腔体内开展液相偏压实验。毫升级反应腔体内配置真实对电极和参比电极,并结合芯片工作电极,使电化学曲线能够与电极表面的形貌变化对应。

台式原位扫描电子显微镜 

台式原位扫描电子显微镜 

HydroBolt 与 Phenom XL 联用实拍

HydroBolt 体相电化学样品台

HydroBolt 准确参数

项目

HydroBolt XL 联用配置

原位激励

液相;液相与偏压

电极体系

三电极体系:工作电极 WE、对电极 CE、参比电极 RE

工作电极

芯片上玻碳电极

外接电极

Pt 对电极;Ag AgCl 参比电极

液相模式

静态

溶液体系

水溶液或有机溶剂

装配方式

支持在手套箱内完成敏感样品装配

 


 

HydroBolt 场景应用

应用方向

可观察内容

研究价值

电沉积

不同电位和时间下的沉积形貌

将电位、时间与成核和沉积位置直接关联

枝晶生长

枝晶成核位置、生长方向和关键时间节点

为沉积机理与安全性研究提供图像证据

电极退化与腐蚀

溶解、腐蚀和表面重构

把电流电位变化与界面形貌变化联系起来

电催化与燃料电池

液相条件下催化材料和膜电极组件的动态变化

观察更接近真实反应条件下的界面过程

 

实验案例一 锌电沉积的实时观察

台式原位扫描电子显微镜 

Pt 工作电极表面 Zn 电沉积过程:t = 0.000 s 与 t = 53.673 s 的 SEM 图像及同步电化学响应

案例要素

资料记录

实验过程

在不同电位条件下记录 t = 0.000 s 与 t = 53.673 s 的 SEM 图像,并同步获取电化学响应

观察结果

工作电极表面从初始平整状态逐步形成可辨识的沉积结构,沉积位置与生长时间可直接追踪

研究价值

把电位和时间与成核位置、沉积形貌及枝晶生长联系起来,为沉积机理与安全性研究提供证据

 


 

实验案例二 真实三电极体系与快速装配

HydroBolt 通过芯片工作电极与外接对电极、参比电极组成三电极测量体系。密封结构可快速组装,并支持在手套箱内完成空气敏感样品装配。

台式原位扫描电子显微镜 

台式原位扫描电子显微镜 

外接 Pt 对电极和 Ag AgCl 参比电极的装配实拍

片上电极方案与真实三电极方案的电化学曲线对比(原资料图)

项目

资料描述

电极体系

芯片工作电极配合外接 Pt 对电极和 Ag AgCl 参比电极,支持真实三电极测量

装配方式

密封结构可快速组装,并支持在手套箱中完成空气敏感样品装配

研究价值

相较仅使用片上电极的方案,可降低电位漂移风险,并便于开展更接近真实工况的电化学实验

 

推荐实验流程

·       明确外部刺激:根据问题选择加热、偏压、液相或液相加偏压。

·       确定时间与条件节点:预设温度、电位和成像时间点,保证同一区域可重复复访。

·       同步记录:连续采集 SEM 图像,并记录温度、电压或电化学响应。

·       建立关联:比较同一区域在各条件节点的形貌、衬度和界面变化。

·       需要时跨平台深入分析:使用通用 Nano-Chip 将样品转移至 TEM 平台开展进一步表征。


 

常见问题

Q1  Phenom XL 原位扫描电镜适合研究哪些动态过程?

答:适合观察材料在加热、偏压或液相电化学条件下发生的成核、生长、烧结、重构、退化、腐蚀、枝晶生长和器件失效等过程。

Q2  FireBolt 可以同时进行加热和偏压吗?

答:可以。资料明确说明 FireBolt 支持加热和或偏压加载。加热芯片温度范围为室温至 1300 °C;加热偏压芯片为室温至 900 °C。

Q3  FireBolt 的电压和电接触能力是多少?

答:电压范围为 -10 V 至 +10 V,最多提供 8 个电接触点。

Q4  HydroBolt 使用什么电极体系?

答:HydroBolt 使用三电极体系,包括芯片上玻碳工作电极、外接 Pt 对电极和 Ag AgCl 参比电极。

Q5  HydroBolt 能使用哪些液体?

答:资料列出的溶液体系为水溶液或有机溶剂,液相模式为静态。具体溶液与材料兼容性应在实验前按正式技术要求确认。

Q6  空气敏感样品能否装配?

答:HydroBolt 支持在手套箱内完成敏感样品装配。

Q7  能否把原位 SEM 结果与 TEM 结果关联?

答:可以。通用 Nano-Chip 支持加热与偏压样品在 SEM 与 TEM 平台之间转移,用于跨尺度关联分析。

Q8  这份产品页为什么没有列出 Phenom XL 主机分辨率等参数?

答:原资料未提供主机分辨率、探测器和真空系统等具体配置。相关主机参数应以正式配置单或技术协议为准,以避免不同配置之间的信息混用。

发布与选型说明

本产品详情中的 FireBolt、HydroBolt 参数和案例均来自所提供资料。涉及 Phenom XL 主机具体配置、可选探测器、软件版本、样品尺寸限制及现场安装条件时,应以供应商正式配置单、技术协议和最新产品文件为准。

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